微電子器件工藝課程設(shè)計

上傳人:無*** 文檔編號:23924808 上傳時間:2021-06-13 格式:DOCX 頁數(shù):5 大小:37KB
收藏 版權(quán)申訴 舉報 下載
微電子器件工藝課程設(shè)計_第1頁
第1頁 / 共5頁
微電子器件工藝課程設(shè)計_第2頁
第2頁 / 共5頁
微電子器件工藝課程設(shè)計_第3頁
第3頁 / 共5頁

下載文檔到電腦,查找使用更方便

10 積分

下載資源

還剩頁未讀,繼續(xù)閱讀

資源描述:

《微電子器件工藝課程設(shè)計》由會員分享,可在線閱讀,更多相關(guān)《微電子器件工藝課程設(shè)計(5頁珍藏版)》請在裝配圖網(wǎng)上搜索。

1、 微電子器件工藝課程設(shè)計 1 2020 年 4 月 19 日 課

2、 程 設(shè) 計 課程名稱 微電子器件工藝課程設(shè)計 題目名稱 PNP 雙極型晶體管的設(shè)計 學(xué)生學(xué)院 ___ 材料與能源學(xué)院 ___ _ 專業(yè)班級 08 微電子學(xué) 1 班 學(xué) 號 學(xué)生姓名 ____ 張又文 __ _ 指導(dǎo)教師 魏愛香、何玉定 ___ 年 7 月 6 日 文檔僅供參考 廣東工業(yè)大學(xué)課程設(shè)計任務(wù)書 題目名稱

3、  pnp 雙極型晶體管的設(shè)計 學(xué)生學(xué)院  材料與能源學(xué)院 專業(yè)班級  微電子學(xué)專業(yè)  08 級 1 班 姓 名  張又文 學(xué) 號 一、課程設(shè)計的內(nèi)容 設(shè) 計 一 個 均 勻 摻 雜 的 pnp 型 雙 極 晶 體 管 , 使 T=300K 時 , β=120。 VCEO=15V,VCBO=80V. 晶體管工作于小注入條件下 , 最大集電極電流為 I C=5mA。設(shè)計時應(yīng)盡量減小基區(qū)寬度調(diào)制效應(yīng)的影 響。 二

4、、課程設(shè)計的要求與數(shù)據(jù) 1.了解晶體管設(shè)計的一般步驟和設(shè)計原則 2.根據(jù)設(shè)計指標(biāo)設(shè)計材料參數(shù) , 包括發(fā)射區(qū)、基區(qū)和集電區(qū) 摻雜濃度 NE, N B, 和 NC, 根據(jù)各區(qū)的摻雜濃度確定少子的擴散系數(shù) , 遷移率 , 擴散長度和壽命等。 3.根據(jù)主要參數(shù)的設(shè)計指標(biāo)確定器件的縱向結(jié)構(gòu)參數(shù) , 包括 集電區(qū)厚度 Wc, 基本寬度 Wb, 發(fā)射區(qū)寬度 We 和擴散結(jié)深 Xjc , 發(fā)射結(jié) 結(jié)深 Xje 等。 4.根據(jù)擴散結(jié)深 Xjc , 發(fā)射結(jié)結(jié)深 Xje 等確定基區(qū)和發(fā)射區(qū)預(yù) 擴散和再擴散的擴散溫度和

5、擴散時間 ; 由擴散時間確定氧化層的氧 3 2020 年 4 月 19 日 文檔僅供參考 化溫度、氧化厚度和氧化時間。 5 .根據(jù)設(shè)計指標(biāo)確定器件的圖形結(jié)構(gòu) , 設(shè)計器件的圖形尺寸 , 繪制出基區(qū)、發(fā)射區(qū)和金屬接觸孔的光刻版圖。 6. 根據(jù)現(xiàn)有工藝條件 , 制定詳細(xì)的工藝實施方案。 7.撰寫設(shè)計報告 三、課程設(shè)計應(yīng)完成的工作 1. 材料參數(shù)設(shè)計 2. 晶體管縱向結(jié)構(gòu)設(shè)計 3. 晶體管的橫向結(jié)構(gòu)設(shè)計 ( 設(shè)計光刻基區(qū)、發(fā)射區(qū)和金屬化的掩膜版圖形 ) 4 .工藝參

6、數(shù)設(shè)計和工藝操作步驟 5. 總結(jié)工藝流程和工藝參數(shù) 6. 寫設(shè)計報告 四、課程設(shè)計進(jìn)程安排 序 地點 起止日期 設(shè)計各階段內(nèi)容 號 1 教師布置設(shè)計任務(wù) , 講解設(shè)計要求和方法 教 1-310 .6.27 學(xué)生熟悉設(shè)計任務(wù) , 進(jìn)行資料查閱和整體 圖書館 2 設(shè)計方案的制定 工三 311 ..6.28 設(shè)計晶體管的各區(qū)材料參數(shù)和結(jié)構(gòu)參數(shù)設(shè) 圖書館 3 計 工三 311 .6.29 教師集中輔導(dǎo) , 分析材料參數(shù)和結(jié)構(gòu)設(shè)計 4. 中

7、存在的主要問題 教 1-302 .6.30 實驗室 2100.7.1- 5 晶體管工藝參數(shù)設(shè)計 , 教 1-302 .7.2 6 繪制光刻基區(qū)、發(fā)射區(qū)和金屬化的版圖 實驗室 .7.3 4 2020 年 4 月 19 日 文檔僅供參考 教 1-302 .7.4 教師集中輔導(dǎo) , 分析工藝設(shè)計中存在的主 實驗室 8 要問題 教 1- 301 .7.5 實驗室 9 總結(jié)設(shè)計結(jié)果 , 寫設(shè)計報告 教 1-301 .7.6

8、 圖書館 , 10 寫課程設(shè)計報告 宿室 .7.7 11 教師組織驗收 , 提問答辯 實驗室 .7.8 五、應(yīng)收集的資料及主要參考文獻(xiàn) 1.<半導(dǎo)體器件基礎(chǔ) >Robert F. Pierret 著 , 黃如譯 , 電子工業(yè) 出版社 , . 2 .<半導(dǎo)體物理與器件  > 趙毅強等譯  , 電子工業(yè)出版社  , . 3 .<硅集成電路工藝基礎(chǔ)  >,  關(guān)旭東編著  , 北京大學(xué)出版社  , .

9、 發(fā)出任務(wù)書日期 計劃完成日期 : 主管院長簽章 :  :  7  年 月  6 月 27 日 指導(dǎo)教師簽名 8 日 基層教學(xué)單位責(zé)任人簽章  :  : 目錄 廣東工業(yè)大學(xué)課程設(shè)計任務(wù)書 3 一、設(shè)計任務(wù)及目標(biāo) 7 二、 晶體管的主要設(shè)計步驟和原則 8 2.1. 晶體管設(shè)計一般步驟 8 2.2 .晶體管設(shè)計的基本原則 9 5 2020 年 4 月 19 日

展開閱讀全文
溫馨提示:
1: 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
2: 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
3.本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
5. 裝配圖網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

相關(guān)資源

更多
正為您匹配相似的精品文檔
關(guān)于我們 - 網(wǎng)站聲明 - 網(wǎng)站地圖 - 資源地圖 - 友情鏈接 - 網(wǎng)站客服 - 聯(lián)系我們

copyright@ 2023-2025  zhuangpeitu.com 裝配圖網(wǎng)版權(quán)所有   聯(lián)系電話:18123376007

備案號:ICP2024067431-1 川公網(wǎng)安備51140202000466號


本站為文檔C2C交易模式,即用戶上傳的文檔直接被用戶下載,本站只是中間服務(wù)平臺,本站所有文檔下載所得的收益歸上傳人(含作者)所有。裝配圖網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對上載內(nèi)容本身不做任何修改或編輯。若文檔所含內(nèi)容侵犯了您的版權(quán)或隱私,請立即通知裝配圖網(wǎng),我們立即給予刪除!