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1、
光學車間檢測（原書第 3 版）（國際機械工程先進技術(shù)譯叢）
作 者：（墨） 馬拉卡拉 主編，楊力 等譯
出 版 社：機械工業(yè)出版社
出版時間： 2012-6-1
版 次： 1 頁 數(shù)： 630 字 數(shù)： 1026000
印刷時間： 2012-6-1 開 本： 16 開紙 張：膠版紙
印 次： 1I S B N ： 9787111373766 包 裝：平裝
內(nèi)容推薦
《光學車間檢測 ( 原書第 3 版 )/ 國際機械工程先進技術(shù)譯叢》編著者馬拉卡拉。
本書原著是光學檢測領(lǐng)域的權(quán)威著作之一，從第 1 版到第 3 版的再版歷時
2、三十年時間，第一版都深受光學檢測領(lǐng)域讀者的歡迎。本書（原書第 3 版）詳細介紹了光學檢測領(lǐng)域的各種儀器、方法和技術(shù)手段，
以及三十年來光學檢測領(lǐng)域的最新重要進展。
本書共分 18 章，主要內(nèi)容包括：牛頓干涉儀，菲佐干涉儀，海丁格干涉儀，泰曼一格林干涉儀，共光路干涉儀，橫向剪切干涉儀，徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀，多光束干涉儀和多通道干涉儀的技術(shù)原理和使用方法；介紹了傅科刀口法、細絲法和調(diào)相法，朗奇檢驗法，哈特曼光闌檢驗、哈特曼一夏克光闌檢驗及其他光闌檢驗，星點檢驗法，非球面波前和鏡面的檢驗，澤尼克多項式與波前擬合，相移干涉測量，表面輪廓儀，多波長及白光干涉測量，散射表面光學檢測，角度
3、、棱鏡、曲率半徑和焦距的測量，光學面及其特性的數(shù)學描述等光學檢測的主要技術(shù)手段和分析方法。
本書可供從事光學檢驗、檢測、測試、計量與研究、設計與制造工作的廣大科技人員參考，也可作為教材供相關(guān)專業(yè)學生及教師使用。
目錄
叢序言
第 3 版譯者的話第3版序
第 1 章牛頓干涉儀、菲佐干涉儀和海丁格干涉儀
1.1 引言
1.2 牛頓干涉儀
1.3 菲佐干涉儀
1.4 海丁格干涉儀
第 2 章泰曼格林干涉儀
2.1 引言
2.2 分光鏡
2.3 相干性要求
2.4 泰曼格林干涉儀的應用
2.5 干涉儀內(nèi)部
4、畸變的補償
2.6 非等程干涉儀
2.7 開放光路干涉儀
2.8 泰曼格林光路結(jié)構(gòu)的變形
2.9 泰曼格林干涉圖及其分析
第 3 章共光路干涉儀
3.1 引言
3.2 使用兩塊匹配散射板的伯奇干涉儀
3.3 雙折射分光鏡
3.4 橫向剪切干涉儀
3.5 雙焦干涉儀
3.6 桑德斯棱鏡干涉儀
3.7 點衍射干涉儀
3.8 采用共光路干涉儀的澤尼克檢測
第 4 章橫向剪切干涉儀
4.1 引言
4.2 光源的相干性
4.3 橫向剪切干涉計量的理論簡介
4.4 未知波前的
5、估計
4.5 平行光橫向剪切干涉儀（白光補償）
4.6 會聚光橫向剪切干涉儀（白光補償）
4.7 使用激光的橫向剪切干涉儀
4.8 其他類型的橫向剪切干涉儀
4.9 矢量剪切干涉儀
第 5 章徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀
5.1 引言
5.2 徑向剪切干涉儀
5.3 旋轉(zhuǎn)剪切干涉儀
5.4 反轉(zhuǎn)剪切干涉儀
第 6 章多光束干涉儀
6.1 發(fā)展簡史
6.2 多光束干涉計量技術(shù)的精度
6.3 多光束菲佐干涉儀
6.4 等色序條紋
6.5 多光束干涉測量中如何減少干涉條紋的間隔
6.6 平行平
6、面法布里珀羅干涉儀
6.7 用法布里 ?珀羅干涉儀產(chǎn)生的托蘭斯基干涉條紋
6.8 檢驗曲面用的多光束干涉儀
6.9 耦合干涉儀和串聯(lián)干涉儀
6.10 全息多光束干涉儀
6.11 法布里 ?珀羅干涉條紋近代的發(fā)展和應用
6.12 結(jié)束語
第 7 章多通道干涉儀 7.1 雙通道干涉儀
7.2 多通道干涉儀
第 8 章傅科刀口法、細絲法及調(diào)相法
8.1 引言
8.2 傅科檢驗法和刀口檢驗法
8.3 細絲檢驗法
8.4 普拉茲克 ?蓋維俄拉檢驗法
8.5 調(diào)相檢驗法
8.6 朗奇 ?康芒檢驗法
7、
8.7 結(jié)束語
第 9 章朗奇（ Ronchi ）檢驗法
9.1 引言
9.2 幾何原理
9.3 波面形狀的測定
9.4 物理原理
9.5 朗奇檢驗法的實際應用
9.6 其他幾種相關(guān)的檢驗
9.7 結(jié)束語
第 10 章哈特曼光闌檢驗、哈特曼 ?夏克光闌檢驗及其他光闌檢驗
10.1 引言
10.2 實例
10.3 矩形光闌的哈特曼檢驗
10.4 波面恢復
10.5 四孔光闌的哈特曼檢驗
10.6 眼鏡的哈特曼檢驗
10.7 采用非矩形光闌的哈特曼檢驗
10.8 哈特曼 ?夏
8、克檢驗
10.9 交叉圓柱鏡測試
10.10 光源陣列或者網(wǎng)格測試
10.11 邁克耳遜 ?加德納 ?貝尼特檢驗法
10.12 其他進展狀況
第 11 章星點檢驗法
11.1 引言
11.2 小像差星點檢驗
11.3 小像差實測結(jié)果
11.4 大像差星點檢驗
11.5 由測得的斜率和曲率恢復波前
11.6 根據(jù)光強傳遞方程由兩幅離焦像求解波前
11.7 根據(jù)傅里葉迭代變換由一幅離焦像求解波前
11.8 根據(jù)菲涅耳變換迭代由兩幅或三幅離焦像求解波前第 12 章非球面波前和鏡面的檢驗
12.1 引言
9、
12.2 一些檢驗非球面波前的方法
12.3 在非零位檢測中干涉圖的成像
12.4 一些零位檢測的光路
12.5 凸雙曲面的檢測
12.6 檢測圓柱面
12.7 早期的補償器
12.8 奧夫納補償器
12.9 反射式補償器
12.10 用于二次凹面的其他補償檢驗法
12.11 使用實全息圖的干涉儀
12.12 應用綜合全息圖的干涉儀
12.13 利用雙波長全息圖檢驗非球面
12.14 波前拼接
第 13 章澤尼克多項式與波前擬合
13.1 簡介
13.2 具有圓形光瞳的旋轉(zhuǎn)對稱系統(tǒng)的像
10、差
13.3 含圓形光瞳而不含旋轉(zhuǎn)對稱軸的像差函數(shù)
13.4 澤尼克環(huán)多項式作為環(huán)形光瞳系統(tǒng)的平衡像差
13.5 利用離散波前誤差數(shù)據(jù)計算澤尼克系數(shù)
13.6 總結(jié)
第 14 章相移干涉測量
14.1 導言
14.2 基本原理
14.3PSI 的優(yōu)勢
14.4 相移的方法
14.5 探測波前相位
14.6 數(shù)據(jù)采集
14.7PSI 算法
14.8 相移校準
14.9 誤差源
14.10 探測器和空間采樣
14.11 品質(zhì)函數(shù)
14.12 相位解包裹
14.13 非球面及擴展量程的 P
11、SI 技術(shù)
14.14 其他分析方法
14.15 計算機處理和輸出
14.16 實現(xiàn)和應用
14.17PSI 技術(shù)的發(fā)展趨勢
第 15 章表面輪廓儀、多波長及白光干涉測量
15.1 表面輪廓儀介紹
15.2 接觸式輪廓儀
15.3 光學輪廓儀
15.4 干涉光學輪廓儀
15.5 雙波長和多波長技術(shù)
15.6 白光干涉光學輪廓儀
15.7 波長掃描干涉儀
15.8 光譜分辨白光干涉測量
15.9 偏振干涉測量
15.10 光學測距方法
15.11 總結(jié)
第 16 章散射表面光學檢測
16.1 莫爾條紋與條紋投影技術(shù)
16.2 全息與散斑測試
第 17 章角度、棱鏡、曲率半徑和焦距的測量
17.1 引言
17.2 角度測量
17.3 棱鏡的測量
17.4 曲率半徑的測量
17.5 焦距測量
第 18 章光學面及其特性的數(shù)學描述
18.1 光學面的定義
18.2 由非球面產(chǎn)生的焦散面
18.3 球面的初始像差
18.4 像散面
18.5 離軸二次曲面
光學車間檢測原書第3版國際機械工程先進技術(shù)譯叢
