自從1802年楊氏（Thomas Young）首先用實(shí)驗(yàn)方法研究光的干涉現(xiàn)象以來。對(duì)光干涉的本質(zhì)及其應(yīng)用研究已延續(xù)近200年的歷史。對(duì)光干涉的本質(zhì)及其應(yīng)用研究已延續(xù)近200年的歷史。激光的出現(xiàn)和計(jì)算機(jī)技術(shù)。微電子技術(shù)的發(fā)展給光干涉技術(shù)注入了新的活力。并已成為現(xiàn)代光學(xué)中一個(gè)重要的分支。
激光干涉測(cè)長技術(shù)Tag內(nèi)容描述：
1、第六章 激光干涉測(cè)長技術(shù),自從1802年楊氏（Thomas Young）首先用實(shí)驗(yàn)方法研究光的干涉現(xiàn)象以來，對(duì)光干涉的本質(zhì)及其應(yīng)用研究已延續(xù)近200年的歷史。激光的出現(xiàn)和計(jì)算機(jī)技術(shù)，微電子技術(shù)的發(fā)展給光干涉技術(shù)注入了新的活力，并已成為現(xiàn)代光學(xué)中一個(gè)重要的分支。激光干涉測(cè)量技術(shù)不僅被廣泛用于對(duì)物體長度、角度、形狀、位移等幾何量的測(cè)量，還可利用其測(cè)量原理對(duì)物理量（如形變、速度、振動(dòng)等）及光學(xué)系統(tǒng)特性（。
2、 自從1802年楊氏Thomas Young首先用實(shí)驗(yàn)方法研究光的干涉現(xiàn)象以來，對(duì)光干涉的本質(zhì)及其應(yīng)用研究已延續(xù)近200年的歷史。激光的出現(xiàn)和計(jì)算機(jī)技術(shù)，微電子技術(shù)的發(fā)展給光干涉技術(shù)注入了新的活力，并已成為現(xiàn)代光學(xué)中一個(gè)重要的分支。激光干涉。
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